若被试绕组不短接，如图所示，由于分布电容C1、C2和C12的影响，在被试绕组对地及非试绕组中，将有电流流过，而且沿整个被试绕组流过的电流不等，愈接近A端，电流愈大，沿线匝存在着电位差。由于流过绕组的是电容电流，故愈接近X端的电位愈高，可能超过试验电压，在严重情况下，会损坏绝缘，所以试验时，必须将被试绕组短接
C12的影响，在被试绕组对地及非试绕组中，将有电流流过，而
且沿整个被试绕组流过的电流不等，愈接近A端，电流愈大，
沿线匝存在着电位差。由于流过绕组的是电容电流，故愈接近
X端的电位愈高，可能超过试验电压，在严重情况下，会损坏
绝缘，所以试验时，必须将被试绕组短接
