航天测控基于VXI总线的多功能边界扫描控制器

航天测控基于VXI总线的多功能边界扫描控制器 赵文彦,杜 影,徐凌辉 (北京航天测控技术开发公司,北京 100037) 摘要:根据系统级边界扫描测试技术的应用需求,基于VXI总线的多功能边界扫描测试控制器具备三种操作模式:IEEE1149.1 TAP模式、IEEE1149.5主控制器模式和从控制器模式。由上位机控制模件组态到期望的模式,模件上的TAP口控制器产生1149.1测试信号,提供给JTAG口用于通过TDO/TDI扫描链对被测目标板进行边界扫描测试。IEEE1149.5主控制器可完成和从控制器间的通讯以便对机箱或子系统级中可测试性模件进行边界扫描测试。兼容于BSDL和EDIF文件格式的自动测试向量生成软件可实现多种扫描测试功能。 关键词:边界扫描测试;MTM总线;TAP口;测试向量生成;

上传人: 上传时间:2015-05-14 15:34:24 文档格式:pdf 收藏数:0 页数: 6 评论数: 0 分类标签: 电气
详细介绍 相关推荐 内容评论
详细介绍
航天测控基于VXI总线的多功能边界扫描控制器-图一

航天测控基于VXI总线的多功能边界扫描控制器-图一

航天测控基于VXI总线的多功能边界扫描控制器-图二

航天测控基于VXI总线的多功能边界扫描控制器-图二

航天测控基于VXI总线的多功能边界扫描控制器-图三

航天测控基于VXI总线的多功能边界扫描控制器-图三

航天测控基于VXI总线的多功能边界扫描控制器-图四

航天测控基于VXI总线的多功能边界扫描控制器-图四

航天测控基于VXI总线的多功能边界扫描控制器-图五

航天测控基于VXI总线的多功能边界扫描控制器-图五

特别声明:本资料属于用户上传的共享下载内容,仅只用于学习不可用于商业用途,如有版权问题,请及时 联系站方删除!

收藏
分享

微信扫码分享

点击分享

相关推荐
点击查看更多
全部评论 我要评论
暂无评论